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手機(jī)老化房
·老化房（燒機(jī)房）ORT簡(jiǎn)介
老化房，又叫恒溫老化房/高溫老化房/燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、安防、照明等領(lǐng)域。老化房通常由圍護(hù)系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、室內(nèi)測(cè)試架構(gòu)等組成。
·執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法；
IEC60068-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法； GJB150.3高溫試驗(yàn)；
·主要技術(shù)參數(shù)
1)老化房?jī)?nèi)尺寸:8.20(W)X4.20(D)X2.20(H)m 2套
2)溫度范圍:常溫+5℃～55℃
3)單臺(tái)老化房?jī)?nèi)可布置13臺(tái)老化測(cè)試架,一次性可老化8736臺(tái)手機(jī) ,2套老化房共老化17472臺(tái)手機(jī)。
4)老化架主要參數(shù):
(1)老化測(cè)試架尺寸：1800(L)*500(L)*H1590(H),mm；
(2)老化測(cè)試架滿載一次性可老化672個(gè)產(chǎn)品；
 
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